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SN74BCT8240ADW
| EXSHINE Artikelnummer: | EX-SN74BCT8240ADW |
|---|---|
| Hersteller Artikelnummer: | SN74BCT8240ADW |
| Hersteller / Marke: | Texas Instruments |
| Kurze Beschreibung: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Bleifreier Status / RoHS Status: | Bleifrei / RoHS-konform |
| Bedingung: | New and unused, Original |
| Datenblatt herunterladen: | SN74BCT8240ADW |
| Anwendung: | - |
| Gewicht: | - |
| Alternativer Ersatz: | - |
Echtzeitverfügbarkeit für
SN74BCT8240ADW
Auf Lager: 47790 PCs können in 1-2 Tagen versendet werden.
Zukünftiger Bestand: 12000 Stück in 7-10 Tagen.
Vorlaufzeit des Herstellers: 8-10 Wochen
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- Beschreibung
- Zahlung
- Versand
- Verpackung
Produktparameter
| Versorgungsspannung | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Supplier Device-Gehäuse | 24-SOIC |
| Serie | 74BCT |
| Verpackung | Tube |
| Verpackung / Gehäuse | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Andere Namen | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
| Betriebstemperatur | 0°C ~ 70°C |
| Anzahl der Bits | 8 |
| Befestigungsart | Surface Mount |
| Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL) | 1 (Unlimited) |
| Hersteller Standard Vorlaufzeit | 6 Weeks |
| Hersteller-Teilenummer | SN74BCT8240ADW |
| Logiktyp | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| Expanded Beschreibung | Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC |
| Beschreibung | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
Andere
| Standardpaket | 25 |
|---|---|
| Andere Namen | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
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