EXSHINE Artikelnummer: | EX-SN74LVTH182502APM |
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Hersteller Artikelnummer: | SN74LVTH182502APM |
Hersteller / Marke: | Texas Instruments |
Kurze Beschreibung: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
Bleifreier Status / RoHS Status: | Bleifrei / RoHS-konform |
Bedingung: | New and unused, Original |
Datenblatt herunterladen: | SN74LVTH182502APM |
Anwendung: | - |
Gewicht: | - |
Alternativer Ersatz: | - |
Versorgungsspannung | 2.7 V ~ 3.6 V |
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Supplier Device-Gehäuse | 64-LQFP (10x10) |
Serie | 74LVTH |
Verpackung | Tray |
Verpackung / Gehäuse | 64-LQFP |
Andere Namen | 296-8696 74LVTH182502APMG4 74LVTH182502APMG4-ND |
Betriebstemperatur | -40°C ~ 85°C |
Anzahl der Bits | 18 |
Befestigungsart | Surface Mount |
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL) | 3 (168 Hours) |
Hersteller Standard Vorlaufzeit | 6 Weeks |
Hersteller-Teilenummer | SN74LVTH182502APM |
Logiktyp | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Expanded Beschreibung | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
Beschreibung | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
Standardpaket | 160 |
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Andere Namen | 296-8696 74LVTH182502APMG4 74LVTH182502APMG4-ND |
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